圖8 a 圖8 b (5)液體介質中的尖端電暈(圖9 a),波形特征:放電出現在兩個半周上,對稱地分布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔,但一組幅值較大的放電先出現,隨試驗電壓升高而幅度增大,不一定等幅值:一組幅值小的放電幅值相等,并且不隨電壓變化(如圖9 b所示)。原因:絕緣液體中尖端或邊緣放電,如一組大的放電出現在正半周,則尖端處于高壓;如它出現在負半周,則尖端處于地電位。 圖9 a 圖9 b (6)接觸不良(圖10),波形特征:對稱分布在試驗電壓零點兩側,幅值大致不變,但在試驗電壓峰值附近下降為零,波形粗糙不清晰。低電壓下即出現,電壓增大時,幅值緩慢增加,有時在電壓達到一定值后完全消失。原因:試驗電路中金屬與金屬不良接觸的連接點;塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來消除)。 圖10 (7)局部放電測試儀可控硅元件(圖11 a),波形特征:位置固定,每只元件產生一個獨立訊號。電路接通,電磁耦合效應增強時,訊號幅值增加。試驗調壓時,該脈沖訊號會產生高頻波形展寬,從而占位增加(圖11 b),原因:鄰近有可控硅元件在運行。 圖11 a 圖11 b (8)局部放電測試儀繼電器、接觸器、輝光管等動作(圖12),波形特征:波形不規則或間斷出現, 同試驗電壓無關。原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。 圖 12
圖8 a 圖8 b (5)液體介質中的尖端電暈(圖9 a),波形特征:放電出現在兩個半周上,對稱地分布在電壓峰值兩則。每一組放電均為等間隔,但一組幅值較大的放電先出現,隨試驗電壓升高而幅度增大,不一定等幅值:一組幅值小的放電幅值相等,并且不隨電壓變化(如圖9 b所示)。原因:絕緣液體中尖端或邊緣放電,如一組大的放電出現在正半周,則尖端處于高壓;如它出現在負半周,則尖端處于地電位。 圖9 a 圖9 b (6)接觸不良(圖10),波形特征:對稱分布在試驗電壓零點兩側,幅值大致不變,但在試驗電壓峰值附近下降為零,波形粗糙不清晰。低電壓下即出現,電壓增大時,幅值緩慢增加,有時在電壓達到一定值后完全消失。原因:試驗電路中金屬與金屬不良接觸的連接點;塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來消除)。 圖10 (7)局部放電測試儀可控硅元件(圖11 a),波形特征:位置固定,每只元件產生一個獨立訊號。電路接通,電磁耦合效應增強時,訊號幅值增加。試驗調壓時,該脈沖訊號會產生高頻波形展寬,從而占位增加(圖11 b),原因:鄰近有可控硅元件在運行。 圖11 a 圖11 b (8)局部放電測試儀繼電器、接觸器、輝光管等動作(圖12),波形特征:波形不規則或間斷出現, 同試驗電壓無關。原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。 圖 12